AVRAHAM Tamar について
Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR について
LINDENBAUM Michael について
Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
コンピュータビジョン について
画像分析 について
注意 について
確率モデル について
評価試験 について
実装設計 について
検出 について
高速化 について
システム評価 について
歩行者検出 について
数学モデル について
顕著性 について
注目 について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について
拡張 について
確率 について
画像モデリング について
意味 について
注目 について