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J-GLOBAL ID：201002275604921483   整理番号：10A0441118

定量的金属組織解析におけるビットマップ離散化の固有の限度

Inherent limitations of bitmap discretization in quantitative microstructural analysis

著者 (2件)： TIWARI Shashank (General Motors R&D, India Sci. Lab, Bangalore, IND) ,  TEWARI Asim (General Motors R&D, India Sci. Lab, Bangalore, IND)
資料名： Materials Characterization  (Materials Characterization)
巻： 61  号： 5  ページ： 493-501  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： D0448C  ISSN： 1044-5803  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 定量的金属組織解析は現代材料科学における必須要因である。これは金属組織のビットマップデジタル像の種々の属性を測定する事により達成される。ビットマップ像の離散的性質から,これらの測定には固有の誤差を伴ない,像の解像力と強い相関性がある。本報告では,測定誤差に及ぼす解像力効果について系統的研究を行う。種々の方位を持つ直線および解像力の異なる円の両方の仮想ビットマップ像について解析を実施した。その結果,或る測定量は他のものより目標および特性値の予測に優れている。例えば,像内の最大フェレット長測定値から直線の長さを推定する場合,測定誤差は最小となる。また,解像力の増加に伴ない測定誤差は漸近的に一定値まで低下するが,すべての場合においてゼロにする必要はない。特に,ペリメータ長さの測定では他の測定と同じく,ゼロに近づく代わりに約5.5%の有限値に到達する。この結果にもかかわらず,ペリメータ長さの測定誤差を解像力の関数として表現するために解析的表示式を導入する。この方程式は本研究にて用いた二像解析系に特有なものであり,任意の等方性二次元像に応用可能な一般的構造を示している。さらに,ペリメータの測定における誤差は過大予測であり,解像力の増加と共に8(√(2-1))/π-1(~5.5%)の値に漸近的に減少し,仮想像にて観察した測定値に極めて近い値となる。この事は,イメージ解析によるすべてのペリメータ測定値が真の値に対し常に過大予測の傾向にあり,この量だけ測定値を補正すれば誤差を低減する事ができる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *金属組織 ,  *定量的分析 ,  *ディジタル画像 ,  *画像分析 ,  *誤差 ,  分解能 ,  金属組織学
準シソーラス用語： *ビットマップ ,  定量金属組織学 ,  *離散化

分類 (1件)： 金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (7件)： 定量 ,  金属組織 ,  解析 ,  ビットマップ ,  離散化 ,  固有 ,  限度