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J-GLOBAL ID：201002276668036404   整理番号：10A1050591

速い電子スピン緩和時間の原子分解能での測定

Measurement of Fast Electron Spin Relaxation Times with Atomic Resolution

著者 (5件)： LOTH Sebastian (IBM Res. Div., CA, USA) ,  ETZKORN Markus (Ecole Polytechnique Federale de Lausanne, Lausanne, CHE) ,  LUTZ Christopher P. (IBM Res. Div., CA, USA) ,  EIGLER D. M. (IBM Res. Div., CA, USA) ,  HEINRICH Andreas J. (IBM Res. Div., CA, USA)
資料名： Science  (Science)
巻： 329  号： 5999  ページ： 1628-1630  発行年： 2010年09月24日 
JST資料番号： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 全電子的ポンププローブ法を用いて,個々の原子のスピン分極のナノスケール時間における時間変化をSTMによって測定する事ができた。表面上に配列させたFe-Cuダイマーのスピン分極を外部磁場で偏極し,プローブパルス電流のポンプパルスとプローブパルス間の時間間隔変化に対する依存性を測定して試料スピンの時間変化を評価結果がスピン緩和による事を確認した。スピン緩和時間の7Tまでの磁場依存性を測定した。

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  *タイムドメイン分光法 ,  ポンププローブ法 ,  鉄 ,  銅 ,  ナノ構造 ,  緩和時間 ,  *電子スピン緩和 ,  ナノテクノロジー ,  スピン分極 ,  電子スピン ,  時間依存性 ,  依存性 ,  磁場効果 ,  分解能 ,  ナノ秒 ,  磁場依存性
準シソーラス用語： STM【顕微鏡】 ,  時間領域分光法 ,  原子分解能

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (2件)： 電子スピン緩和 ,  原子分解能