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J-GLOBAL ID：201002277041088324   整理番号：10A0138101

陽電子を用いたひずみ測定技術

著者 (2件)： 服部兼久 (東洋精鋼) ,  渡邊吉弘 (東洋精鋼)
資料名： ショットピーニング技術
巻： 22  号： 1  ページ： 9-15  発行年： 2010年01月 
JST資料番号： L1943A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽電子は侵入した部材の欠陥部に拘束され,エネルギーを放出して消滅する。放出されるエネルギーは欠陥部の状態により変化することから,この特性を利用すれば部材内の残留応力分布を評価できる可能性がある。本報告では,陽電子を用いてショットピーニング前後の試験片を測定し,X線回折法で求めた残留応力分布と比較した。結果,陽電子によって,非破壊で残留応力分布を推測できる可能性が示唆された。(著者抄録)

シソーラス用語： *応力測定 ,  *陽電子消滅 ,  残留応力 ,  応力分布 ,  *ショットピーニング ,  歪測定 ,  欠陥

分類 (2件)： 金属材料  (HC02020X) ,  熱的操作によらぬ硬化  (WC04080O)

引用文献 (1件)：

• 例えば, 上殿明良 陽亀子消滅による材料分析ホームページhttp://www.sakura.cc.tsukuba.ac.jp/~slowposl/youdensi_toha_nanika.html

タイトルに関連する用語 (2件)： 陽電子 ,  ひずみ測定