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J-GLOBAL ID：201002278586287193   整理番号：10A0847783

(Ba_1-xBi_x)_0.9Sr_0.1TiO_3-δセラミックの酸素空孔と電子の相乗作用に関係した緩和

Relaxation associated with the synergetic oxygen vacancies and electrons in (Ba_1-xBi_x)_0.9Sr_0.1TiO_3-δ ceramics

著者 (2件)： LI Zhuo (State Key Lab. of Solidification Processing, School of Materials Sci. and Engineering, Northwestern Polytechnical ...) ,  FAN Huiqing (State Key Lab. of Solidification Processing, School of Materials Sci. and Engineering, Northwestern Polytechnical ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 108  号： 3  ページ： 034103  発行年： 2010年08月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： (Ba_0.95Bi_0.05)_0.9Sr_0.1TiO_3-δ及び(Ba_0.9Bi_0.1)_0.9Sr_0.1TiO_3-δ(それぞれBBST5及びBBST10と略記)に従うBiドープのセラミックにおける誘電特性の温度依存性を,ドープしないBa_0.9Sr_0.1TiO₃(BSTと略記)セラミックと比較して調べた。BBST5及びBBST10のセラミックで150°C以上に二種類のブロードな誘電率ピークがある誘電緩和挙動が観測され,一種類のみのブロードな損失ピークがあるBSTセラミックとは非常に異なっていた。緩和,P-Eヒステリシス曲線,及びJ-E特性に対する普遍誘電応答(UDR)を調べた。BBST5及びBBST10セラミックの活性化エネルギーは第一誘電損失ピークP₁で0.83,0.84eVで,第二損失ピークP₂では0.60,0.75eVであり,UDR則の指数sは温度の上昇に従い減少し,電子に関係した酸素空孔がこの誘電緩和の原因であることを示している。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *強誘電体 ,  *バリウム化合物 ,  *ストロンチウム化合物 ,  *チタン酸塩 ,  置換型固溶体 ,  ドーピング ,  ビスマス ,  空格子点 ,  セラミック ,  誘電率 ,  誘電正接 ,  *誘電緩和 ,  活性化エネルギー ,  誘電分極 ,  ヒステリシス ,  電流電圧特性
準シソーラス用語： 酸素空孔

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (5件)： セラミック ,  酸素空孔 ,  電子 ,  相乗作用 ,  緩和