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J-GLOBAL ID：201002279049060677   整理番号：10A1020584

半導体レーザーを用いた自己混合干渉による振動解析

著者 (4件)： 松村尚哉 (高知工科大) ,  樋川芳史 (高知工科大) ,  月出章 (高知大) ,  木村正廣 (高知工科大)
資料名： 高知工科大学紀要  (Research Bulletin. Kochi University of Technology)
巻： 7  号： 1  ページ： 31-36  発行年： 2010年07月29日 
JST資料番号： L7194A  ISSN： 1348-4842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 自己混合干渉法を用いた散乱光の測定装置を作製し,ブザーの振動を測定した。測定結果と光の電場式から導出した近似解によるシミュレーション結果と比較し,計算結果によって実験データを非常に良く再現できることを示した。特に,低周波領域には,ブザーの振動数に対応した強いピークとその高調波成分とが現れた。また,測定波形とシミュレーション波形の比較から,振動の振幅を決定できることを示した。本装置の振動振幅に対する分解能は,500Hzのときに,0.3μmであった。

シソーラス用語： 半導体レーザ ,  *振動解析 ,  振動計 ,  *光ヘテロダイン法 ,  散乱光 ,  スペクトル解析 ,  非接触測定
準シソーラス用語： レーザドップラ振動計 ,  パワースペクトル解析 ,  レーザダイオード

分類 (1件)： 振動の励起・発生・測定  (BB02030Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 半導体レーザー ,  自己 ,  干渉 ,  振動解析