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J-GLOBAL ID：201002280182816871   整理番号：10A0611010

任意特性の多重欠陥をもつ集積回路の診断

Diagnosis of Integrated Circuits With Multiple Defects of Arbitrary Characteristics

著者 (2件)： YU Xiaochun (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  BLANTON Ronald DeShawn (Carnegie Mellon Univ., PA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 29  号： 6  ページ： 977-987  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文の方法は多数の欠陥をもつ回路を有効に診断する方法であって,欠陥位置識別と除去(DSIE)手順,及び欠陥候補選択とランク付けヒューリスティックから成る。縮退故障とOR型ブリッジ故障をもつ回路例で説明する。径路追跡法で候補を求め,未知変数Xを導入する。含意規則と割当規則にもとづき,前方含意操作と後方含意操作を行う。更に候補数を減少させるために径路ベースの動作評価を行い,候補の森を形成する。実験には縮退故障,AND及びOR型ブリッジ故障,遷移故障を含めた。径路追跡のみの場合に比べて候補数は30%減少した。シミュレーションによりこの方法は欠陥を正確に検出することを確認した。

シソーラス用語： *集積回路 ,  *故障診断 ,  欠陥検査 ,  等級づけ ,  *発見的方法 ,  縮退故障 ,  含意 ,  電気故障
準シソーラス用語： 遷移故障

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 多重 ,  欠陥 ,  集積回路 ,  診断