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J-GLOBAL ID：201002280601507655   整理番号：10A0321573

テスト生成におけるテストベクター改善

On Test Generation With Test Vector Improvement

著者 (2件)： POMERANZ Irith (Purdue Univ., IN, USA) ,  REDDY Sudhakar M. (Univ. Iowa, IA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 29  号： 3  ページ： 502-506  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テストベクター生成においてテストベクター改善と呼ぶステップの導入を提案する。通常,故障検出率をあげるためにベクターの追加を繰り返していくが,このときに本ステップを追加することで未検出故障の検出数をさらに改善することを狙う。テストベクター改善はシミュレーションに基づいて行う。テストベクター圧縮のためにベクター中の一部のビットを未定にしてある場合は,この改善ステップは未定ビット数を維持する。結果として,より小さなテストベクター群および高い故障検出率を得ることができた。

シソーラス用語： *CAD【計算機】 ,  *ベクトル ,  故障検出 ,  *テストパターン ,  データ圧縮
準シソーラス用語： *テスト生成 ,  *テストベクター

分類 (1件)： CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (3件)： テスト生成 ,  テスト ,  ベクター