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J-GLOBAL ID：201002281280873669   整理番号：10A0826322

金属-アシスト2次イオン質量スペクトルの機構:理論と実験の組み合わせによる研究

Mechanisms of metal-assisted secondary ion mass spectrometry: a mixed theoretical and experimental study

著者 (7件)： RESTREPO O. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  PRABHAKARAN A. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  HAMRAOUI K. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  WEHBE N. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  YUNUS S. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  BERTRAND P. (Univ. catholique de Louvain, BEL) ,  DELCORTE A. (Univ. catholique de Louvain, BEL)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 42  号： 6/7  ページ： 1030-1034  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分子動力学(MD)シミュレーションプログラムを使用して,金ナノ粒子で被覆されたポリマー薄膜表面のGaとC₆₀照射の際に起る種々のプロセスを明らかにした。この結果から,ポリマーの金属アシスト2次イオン質量スペクトル(MetA-SIMS)測定において観察されたいくつかの傾向が説明できた。金クラスターのサイズが比較的小さい場合には,収率のインパクト点に対する依存性はGaとC₆₀の場合には互いに反対であった。インパクト点が有機層からクラスターへ移動するとC₆₀による有機フラグメントの収率が著しく低下したが,Gaの場合にはその収率の増加が誘起される傾向が見られた。Gaが吸着された金クラスターを照射すると,エネルギーを帯びた金の反跳粒子が生成し,これがそのエネルギーをポリエチレン表面にエネルギーを伝達する。C₆₀による照射では入射粒子のエネルギーの大部分は金クラスターの表面に伝達され,高分子材料のフラグメントの放出を誘起しない。

シソーラス用語： *金属クラスタ ,  *二次イオン質量分析 ,  計算機シミュレーション ,  ナノ粒子 ,  *イオン照射 ,  高分子薄膜 ,  ガリウム ,  フラーレンC60 ,  反跳粒子 ,  マトリックス効果 ,  ポリスチレン
準シソーラス用語： 金ナノ粒子 ,  分子動力学シミュレーション

分類 (1件)： 質量スペクトル(分子)  (BH06100V)

タイトルに関連する用語 (6件)： アシスト ,  2次イオン質量スペクトル ,  理論 ,  実験 ,  組み合わせ ,  研究