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J-GLOBAL ID：201002281436429128   整理番号：10A0356675

X線反射率法によるイオン液体水溶液に含まれるCl^-イオンの表面深さ方向分析

Depth Distribution Analysis of Cl^- in Aqueous Ionic Liquids by X-Ray Reflectivity Measurements

著者 (6件)： 矢野陽子 (立命館大 総合理工学研究機構) ,  宇留賀朋哉 (高輝度光科学研究セ) ,  谷田肇 (高輝度光科学研究セ) ,  豊川秀訓 (高輝度光科学研究セ) ,  寺田靖子 (高輝度光科学研究セ) ,  山田廣成 (立命館大 理工)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 41  ページ： 117-125  発行年： 2010年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： SPring-8の溶液界面反射率計を用いて水面上の1-dodecyl-3-methylimidazolium chloride単分子膜のX線反射率測定を行った。X線反射率曲線はドデシル基を含む層とCl^-イオンを含む層の2層モデルでうまく説明することができた。これによりCl^-イオンは表面深さ10±1Åに局在していることがわかった。なおCl^-イオンを含む層からの反射はq_z0.5Å^-の領域に大きく寄与することから,本化合物中のCl^-イオンの位置を同定するためには10^-8以下の反射率測定が必要である。(著者抄録)

シソーラス用語： *反射率 ,  *イオン液体 ,  *水溶液 ,  *アニオン ,  *深さプロフィル ,  単分子層 ,  放射光施設 ,  溶液界面
準シソーラス用語： SPring-8 ,  *X線反射率 ,  *塩素イオン

分類 (3件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  融解塩  (CB05050R) ,  液-気界面  (CB12020U)

物質索引 (1件)： 1-ドデシル-3-メチルイミダゾリウム

引用文献 (12件)：

• 原田 誠, 岡田哲夫, 谷田 肇, 渡辺 巌: 分析化学, 52, 405-418(2003).
• 例えば,“特集: いま注目のイオン液体”, 現代化学, 2007年3月号.
• E. Solutskin, B. M. Ocko, L. Taman, I. Kuzmenko, T. Gog, M. Deutsch: J. Am. Chem. Soc., 127, 7796-7804,(2005).
• Y. Jeon, J. Sung, W. Bu, D. Vaknin, Y. Ouchi, D. Kim: J. Phys. Chem., C 112, 19649-19654(2008).
• 桜井健次編:「X線反射率法入門」,(2009),(講談社サイエンティフィク).

タイトルに関連する用語 (6件)： X線反射率法 ,  イオン液体 ,  水溶液 ,  イオン ,  深さ方向 ,  分析