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J-GLOBAL ID:201002282357106263   整理番号:10A0605563

eビーム蒸着CuIn0.5Ga0.5Te2薄膜の構造的,光学的および電気的性質に対するアニーリング効果

Annealing effects on structural, optical and electrical properties of e-beam evaporated CuIn0.5Ga0.5Te2 thin films
著者 (2件):
資料名:
巻: 256  号: 21  ページ: 6454-6458  発行年: 2010年08月15日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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化学量論比での構成元素の直接反応で合成した単結晶粉末からのeビーム蒸着によりCuIn0.5Ga0.5Te2薄膜を調製した。300および350°Cで蒸着後アニーリングを行なった。エネルギー分散X線分析(EDXA)により膜の組成を決定し,蒸着後アニーリングに従って構成元素の原子百分率に顕著なゆらぎがあることを見出した。X線回折(XRD)は,成長した状態の膜が非晶質の性質をもち,300°Cでのアニーリングに続いて多結晶構造に変化することを示した。300°Cでのアニーリング後にCuIn0.5Ga0.5Te2の主ピークそして2元相Cu2Teの属する小ピークが出現するが,350°Cでアニールした膜に対しては,(112)面に沿って選択方位をもつCuIn0.5Ga0.5Te2の黄銅鉱型構造の単一相を観測した。X線光電子分光法(XPS)を用いて表面領域上および近傍へのアニーリングの効果を研究した。結果は,アニーリング処理に従って表面組成にかなりの変動があることを示した。200~1100nmの波長範囲で透過および反射測定を行なった。膜の吸収係数が104cm-1の程度であることを見出し,それぞれ成長した状態の膜と300および350°Cでアニールした膜に対して1.39,1.43そして1.47eVであると決定した。-73から157°Cまでの温度範囲で温度依存伝導率および光伝導率測定を行ない,それぞれ成長した状態の膜そして350°Cでアニールした膜に対して室温抵抗率が約3.4×107および9.6×106(Ωcm)であることを見出した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  半導体結晶の電気伝導 

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