文献

J-GLOBAL ID：201002282430856624   整理番号：10A0356668

高感度ハンディー全反射蛍光X線分析装置

Portable Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer for Ultra Trace Elemental Determination

著者 (2件)： 国村伸祐 (京大 大学院工学研究科) ,  河合潤 (京大 大学院工学研究科)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 41  ページ： 29-44  発行年： 2010年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 全反射蛍光X線分析では,入射X線の単色化およびシンクロトロン放射光のような高強度X線源の利用により,スペクトルの信号対バックグラウンド強度比を高めることが検出感度を向上させるために必要不可欠であると考えられてきた。一方,われわれは数ワットの自然空冷式X線管からの非単色X線を用いるハンディー全反射蛍光X線分析装置を開発してきた。従来の定説に反して,入射X線を単色化せずに使用する方が検出下限を改善できることを本装置の開発過程で明らかにした。また,非単色X線を使用する際には試料量を少なくして測定することで試料自体からの入射X線の散乱を減少させ,検出感度を向上させることができた。さらに,最適なX線管ターゲットの選択,X線管の管電圧,管電流,入射X線の視射角の最適化,X線導波路の利用により,本装置は微弱X線管を使用しているにもかかわらず,シンクロトロン放射光に迫る10pg(10^-11g)の検出下限を達成した。本稿では,ハンディー装置の概要,管電圧などの測定条件を変えると検出感度がどのように変化するかについて解説し,生体試料や顔料の元素分析への応用例を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *携帯型 ,  *蛍光X線分析 ,  *全反射 ,  *分析機器 ,  バックグラウンド ,  感度 ,  検出限界 ,  X線散乱 ,  X線管 ,  シンクロトロン放射 ,  生体試料 ,  顔料 ,  元素分析
準シソーラス用語： 検出感度 ,  *全反射蛍光X線分析

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  分析機器  (CC02020S)

引用文献 (29件)：

• Y. Yoneda, T. Horiuchi: Rev. Sci. Instrum., 42, 1069(1971).
• P. Wobrauschek, H. Aiginger: Anal. Chem., 47, 852(1975).
• J. Knoth, H. Schwenke: Fresenius’Z. Anal. Chem., 301, 7(1980).
• A. Iida, Y. Gohshi: Jpn. J. Appl. Phys., 23, 1543(1984).
• A. Iida, A. Yoshinaga, K. Sakurai, Y. Gohshi: Anal. Chem., 58, 394(1986).

タイトルに関連する用語 (2件)： 高感度 ,  全反射蛍光X線分析