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J-GLOBAL ID：201002283408537970   整理番号：10A0108186

集束イオンビームによって調製した薄片のRamanマイクロ分光法と透過型電子顕微鏡の組み合せを用いての塩素イオンを埋め込んだ黒鉛の特性化

Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

著者 (6件)： AMMAR M.r. (Lab. de Geologie de l′Ecole Normale Superieure, UMR CNRS-ENS 8538, 24 rue Lhomond, F-75231 Paris cedex 5, FRA) ,  ROUZAUD J.n. (Lab. de Geologie de l′Ecole Normale Superieure, UMR CNRS-ENS 8538, 24 rue Lhomond, F-75231 Paris cedex 5, FRA) ,  VAUDEY C.e. (Univ. Lyon 1, CNRS/IN2P3, UMR5828, Inst. de Physique Nucleaire de Lyon (IPNL), 4 rue Enrico Fermi, F-69622 ...) ,  TOULHOAT N. (Univ. Lyon 1, CNRS/IN2P3, UMR5828, Inst. de Physique Nucleaire de Lyon (IPNL), 4 rue Enrico Fermi, F-69622 ...) ,  TOULHOAT N. (Commissariat a l’Energie Atomique CEA/DEN, Centre de Saclay, F-91191 Gif sur Yvette cedex, FRA) ,  MONCOFFRE N. (Univ. Lyon 1, CNRS/IN2P3, UMR5828, Inst. de Physique Nucleaire de Lyon (IPNL), 4 rue Enrico Fermi, F-69622 ...)
資料名： Carbon  (Carbon)
巻： 48  号： 4  ページ： 1244-1251  発行年： 2010年04月 
JST資料番号： H0270B  ISSN： 0008-6223  CODEN： CRBNA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 250keVの³⁷Cl⁺イオン注入によって黒鉛を改質した。黒鉛構造の多スケール組織を特性化するのに,Ramanマイクロ分光法と透過型電子顕微鏡(TEM)の組み合せ研究を使用した。二次イオン質量分析法分析で期待されるように,照射イオンエネルギーの消散のため,黒鉛試料中への³⁷Cl⁺の侵入深さは表面(約200nm)に制限された。Ramanマイクロ分光法は,そのようなスケールを研究するための適切なツールであるように見える。5×10¹³イオン/cm²の照度での注入の後に,スペクトルは欠陥バンドの強い増加を示した。ナノメートルスケールの深さに従った黒鉛構造の劣化を調べるために,集束イオンビーム技法はRamanやTEM観察の関連のための十分適した方法であるように思える。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *グラファイト ,  表面改質 ,  劣化 ,  イオン注入 ,  塩素 ,  集束イオンビーム ,  表面分析 ,  Raman分光法 ,  格子欠陥

分類 (1件)： 炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (9件)： 集束イオンビーム ,  調製 ,  薄片 ,  分光法 ,  透過型電子顕微鏡 ,  組み合せ ,  塩素イオン ,  黒鉛 ,  特性化