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J-GLOBAL ID:201002285203157417   整理番号:10A0546704

低温近接場走査型マイクロ波顕微鏡を用いたYBa2Cu3O7-δマイクロブリッジにおける低レベル散逸及び熱不安定性の検出

Detection of low-level dissipation and thermal instability in Y Ba2Cu3O7-δ microbridges using low temperature near-field scanning microwave microscopy
著者 (4件):
資料名:
巻: 23  号:ページ: 055001,1-6  発行年: 2010年05月 
JST資料番号: T0607A  ISSN: 0953-2048  CODEN: SUSTEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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YBa2Cu3O7-δ(YBCO)マイクロブリッジの超伝導状態における低レベル散逸及び熱不安定性の検出における近接場走査型マイクロ波顕微鏡(NSMM)の高い感度を実証した。NSMMの感度は,電気輸送測定により検出可能なそれより約3~4桁良かった。さらに,輸送臨界電流基準よりはるかに低いところでの散逸の動的展開を研究し,二つの異なるパターンを観測した。超伝導-常伝導転移から離れた温度及びバイアス電流において現れる階段状非線形特徴は,孤立ホットスポットの核形成の二モード散逸展開パターンを示唆した。
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分類 (2件):
分類
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Josephson接合・素子  ,  酸化物系超伝導体の物性 

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