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J-GLOBAL ID：201002285330489836   整理番号：10A0978267

多結晶薄膜太陽電池の加速寿命試験中容量-電圧ヒステリシス測定の性能との相関関係

The Correlation of Capacitance-Voltage Hysteresis Measurements with Performance During Accelerated Lifetime Testing of Polycrystalline Thin Film Solar Cells

著者 (1件)： ALBIN David S. (National Renewable Energy Lab. (NREL), CO)
資料名： Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits  (Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻： 17th  ページ： 52-57  発行年： 2010年 
JST資料番号： W1259A  ISSN： 1946-1542  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異なる太陽電池技術の最重要尺度ではないが,電池性能,即ち効率η%が最も多く使用されている。効率は,開放回路電圧(V_oc),短絡回路電流密度(J_sc)とフィルファクタ(FF)の積により直接決まる。ストレスの関数としてη%の測定を用いた多数の研究により,電池ストレス中のη%の変化は,FFの変化と大きな相関関係があることが示された。このため,FF変化の理由の把握が,CdTe薄膜太陽電池の耐久性を改善するのに重要である。一般に,FFは,電池の異なる成分を代表する多くの電池パラメータにより影響される。FFの変化を良く調べ,電池劣化の原因を良く把握するため,既存の加速寿命試験(ALT)の枠組みに容易に導入可能な新不良解析方法を開発した。この非破壊2端子方法は,多結晶薄膜太陽電池と最終的な直列接続薄膜モジュールに応用するのに比較的容易である。SnO₂またはCTO/XTO系TCO/ガラス基板上に成長したCdS/CdTe素子の相対耐久性を比較することにより,FF劣化の第一根本原因は,再結合の増加によることを示した。容量ヒステリシス(V=0での空乏幅の差として定義)による電池のV_ocとFF間の強い相関関係を示した。過去の結果ではイオン性を提案したが,このヒステリシスの原因は電子性かまたはイオン性かは不明である。

シソーラス用語： *容量電圧特性 ,  *ヒステリシス ,  *加速試験 ,  寿命試験 ,  *多結晶 ,  *半導体薄膜 ,  *太陽電池 ,  エネルギー変換効率 ,  開路 ,  短絡電流 ,  電流密度 ,  故障解析 ,  直列接続 ,  活性化エネルギー ,  SPICEプログラム ,  テルル化カドミウム ,  酸化カドミウム ,  酸化スズ ,  硫化カドミウム
準シソーラス用語： PSpice ,  CTO【化合物】

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 多結晶薄膜 ,  太陽電池 ,  加速寿命試験 ,  ヒステリシス ,  相関関係