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J-GLOBAL ID：201002285583940283   整理番号：10A0136036

周波数変調原子間力顕微鏡による金属-フタロシアニン単層上での分子下スケールの研究

Submolecular-scale Investigations on metal-phthalocyanine monolayers by frequency modulation atomic force microscopy

著者 (6件)： ICHII Takashi (Dep. of Electronic and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN) ,  FUKUMA Takeshi (Dep. of Electronic and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN) ,  YODA Tadashi (Dep. of Electronic and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN) ,  KOBAYASHI Kei (Innovative Collaboration Center, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8520, JPN) ,  MATSUSHIGE Kazumi (Dep. of Electronic and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN) ,  YAMADA Hirofumi (Dep. of Electronic and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 107  号： 2  ページ： 024315  発行年： 2010年01月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Au(111)表面上に蒸着された銅-フタロシアニン(CuPe)単層とコバルト-フタロシアニン単層が周波数変調原子間顕微鏡(FM-AFM)によって研究された。分子下分解能トポグラフィー画像が両方のサンプルに対して成功裏に得られた。二つの分子の類似な分子形状にもかかわらず,それらはトポグラフィー画像で明らかに異なったコントラストを示した。コントラストの原因は分子軌道の関係およびチップと分子の間の化学的相互作用によって議論される。さらに,分子-分解能表面ポテンシャル(SP)画像がFM-AFMを利用するKelvinプローブ力顕微鏡を使用してCuPc単層上で得られた。分子スケールSPコントラストが有機/金属界面での電気双極子モーメントによって説明された。この結果はKFMの単分子双極子モーメントの検出の可能性を示唆した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *周波数変調 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *金属 ,  *単一層 ,  金 ,  コバルト ,  *トポグラフィー【形態】 ,  分子軌道 ,  *表面電位 ,  *力顕微鏡 ,  *双極子モーメント ,  *画像 ,  分子 ,  大環状化合物 ,  窒素複素環化合物 ,  架橋化合物 ,  芳香族縮合化合物
準シソーラス用語： 単層 ,  表面ポテンシャル ,  Kelvinプローブ力顕微鏡

分類 (2件)： 金属の表面構造  (BK15020P) ,  分子間相互作用  (BH07020P)

物質索引 (1件)： フタロシアニン

タイトルに関連する用語 (6件)： 周波数変調原子間力顕微鏡 ,  フタロシアニン ,  単層 ,  分子 ,  スケール ,  研究