高アスペクト比のピンホールを用いた染色体の軟X線ホログラフィック顕微鏡法

BARTH Ruth; STAIER Florian; SIMPSON Todd; MITTLER Silvia; EISEBITT Stefan; GRUNZE Michael; GRUNZE Michael; ROSENHAHN Axel; ROSENHAHN Axel

文献

J-GLOBAL ID：201002285675988851 整理番号：10A0965463

高アスペクト比のピンホールを用いた染色体の軟X線ホログラフィック顕微鏡法

Soft X-ray holographic microscopy of chromosomes with high aspect ratio pinholes

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BARTH Ruth

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巻： 149 号： 4 ページ： 238-242 発行年： 2010年09月15日
JST資料番号： A0456C ISSN： 0168-1656 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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Gabor幾何学でのディジタル一列軟X線ホログラフィック(DIXH)を用いてヒト染色体を撮像した。発散波面は高アスペクト比のピンホールからのシンクロトロン放射差異によって発生した。本実験条件下では達成可能な解像度はピンホール半径に依存するため,100nm範囲の直径を持つ高アスペクト比ホールを集束イオンビーム(FIB)フライス加工によって調製した。得られたAiryパターンの中心最大を用いてBESSY IIシンクロトロン放射設備によって提供された260eVの光子エネルギーを持つ軟X線によって370±40nmの実験的解像で細胞分裂中期HeLa細胞から調製した染色体を撮像した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

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