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J-GLOBAL ID:201002286499232288   整理番号:10A0640439

As-Se-GeとBiドープAs-Se-Ge薄膜の線形と非線形屈折率

Linear and nonlinear refractive index of As-Se-Ge and Bi doped As-Se-Ge thin films
著者 (2件):
資料名:
巻: 107  号: 11  ページ: 113527  発行年: 2010年06月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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この研究は(As2Se3)90Ge10,と[(As2Se3)90Ge10]95Bi5薄膜の線形と非線形屈折率を報告した。FournierとSnitzerが提案した定式化を屈折率の非線挙動を予測するのに用いた。0.4~1.5μm波長領域の非線形屈折率の決定に線形屈折率とWemple-DiDomenicoパラメータを使った。線形屈折率を有名なSwanepoel法を使用して決定した。非線形屈折率が線形屈折率を増やすことで線形に増加する ことを観察した。Bi添加で,非線形屈折率が2.4倍増加することを見つけた。一方 純粋とドープ石英ガラスと比較すると,結果は2 ~3桁高い。密度とモルボリュームも,計算した。得られた結果は,より敏感な光学制限デバイスを生むことに導き,そして,これらのガラスは高速コミュニケーション繊維の光学材料として使えるかもしれない。(翻訳著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (1件):
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光物性一般 
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