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J-GLOBAL ID:201002286668331541   整理番号:10A0523536

共焦点Raman顕微鏡法を用いたレーザ改質融解シリカ中の微細構造緩和現象の解析

Analysis of microstructural relaxation phenomena in laser-modified fused silica using confocal Raman microscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 35  号:ページ: 1311  発行年: 2010年05月01日 
JST資料番号: H0690A  ISSN: 0146-9592  CODEN: OPLEDP  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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限局化した10.6μmCO2レーザ加熱に関連した融解シリカの微細構造変化を報告した。SiO2の高周波非対称伸長横光学フォノンモードの空間分解した偏移を,共焦点Raman顕微鏡法を用いて測定し,種々のレーザ加熱条件に対して軸仮想温度(Tf)マップを構築した。Fourier伝導に基づく有限要素モデルを用いて軸上温度-時間履歴を計算し,構造緩和に対するTool-Narayanaswamy形式に関連して,Tf(z)プロファイルに当てはめて緩和パラメータを求めた。Tfの計算値と測定値は非常に良く一致し,レーザ改質シリカの緩和時間と活性化エンタルピーに対する妥当な値を得た。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
分類
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無機化合物の赤外・Ramanスペクトル(分子) 

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