文献

J-GLOBAL ID：201002286985545557   整理番号：10A0555048

TiO₂表面の仕事関数に及ぼす紫外線およびX線照射の効果

Effect of ultraviolet and x-ray radiation on the work function of TiO₂ surfaces

著者 (5件)： GUTMANN S. (Dep. of Chemistry, Univ. of South Florida, Tampa, Florida 33620, USA) ,  WOLAK M. A. (Dep. of Electrical Engineering, Univ. of South Florida, Tampa, Florida 33620, USA) ,  CONRAD M. (Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of South Florida, Tampa, Florida 33620, USA) ,  BEERBOM M. M. (Dep. of Electrical Engineering, Univ. of South Florida, Tampa, Florida 33620, USA) ,  SCHLAF R. (Dep. of Electrical Engineering, Univ. of South Florida, Tampa, Florida 33620, USA)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 107  号： 10  ページ： 103705  発行年： 2010年05月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電子放出分光法(PES)によって,ナノ結晶アナターゼ(TiO₂)薄膜とルチル単結晶の仕事関数を測定した。真空中における電気スプレイ薄膜堆積法によって,ナノ結晶の二酸化チタン薄膜を堆積した。これらの試料に関する紫外線光電子放出分光法(UPS)と低強度のX線光電子放出分光法(LIXPS)によって得られた仕事関数の比較から,UPS測定によって仕事関数は急速,且つ大幅(>0.5eV)に低減し,またその低減は永久的であることが分かった。更に,通常のXPS測定によっても測定時間が秒から分に亘ると,仕事関数は低減することが分かった。これらの効果は,以前にXPSおよびUPSで評価された酸化インジウムスズ(ITO)基板上で観測された結果と大きさが同じであり,TiO₂表面に存在する酸素空格子点の光化学水酸化に因る表面双極子の形成に関係するものと思われる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 噴霧 ,  *酸化チタン ,  *誘電体薄膜 ,  *仕事関数 ,  紫外線照射 ,  X線照射 ,  アナターゼ ,  ルチル ,  ナノ結晶 ,  単結晶 ,  X線光電子スペクトル ,  光電子分光法 ,  酸素 ,  空格子点 ,  光化学反応 ,  双極子 ,  時間 ,  ヒドロキシ化
準シソーラス用語： ヒドロキシル化 ,  エレクトロスプレイ ,  UPS【電子分光】 ,  測定時間

分類 (1件)： 電子放出一般  (BM09010H)

タイトルに関連する用語 (4件)： TiO2 ,  仕事関数 ,  紫外線 ,  X線照射