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J-GLOBAL ID：201002288359663966   整理番号：10A0916792

陽電子寿命測定による30MeV電子線照射後セラミックスの欠陥導入状態評価

著者 (7件)： 秋吉優史 (京大) ,  高木郁二 (京大) ,  土田秀次 (京大) ,  義家敏正 (京大) ,  XU Qiu (京大) ,  佐藤紘一 (京大) ,  森山裕丈 (京大)
資料名： 日本原子力学会秋の大会予稿集(CD-ROM)
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.E35  発行年： 2010年08月27日 
JST資料番号： S0818B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： これまで中性子照射後セラミックス及び電子線照射後セラミックスの熱拡散率(2008年原子力学会春の年会,秋の大会)及び陽電子寿命測定結果(2009年原子力学会春の年会,秋の大会)について報告を行ってきた。しかし,電子線照射後試料については照射直後の一部の試料が放射化されており,正常なスペクトルを測定できなかった。また,装置分解能も低かったため,測定系の改良を行い,時間経過による放射能の減衰を待って,寿命測定を行った。(著者抄録)

シソーラス用語： *セラミック ,  *中性子照射 ,  *寿命 ,  *照射損傷
準シソーラス用語： *陽電子寿命

分類 (1件)： 核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 陽電子寿命 ,  電子線照射 ,  セラミックス ,  欠陥 ,  状態評価