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J-GLOBAL ID：201002289074447980   整理番号：10A0937233

SiGe HBTシフトレジスタとクロックバッファのための非TMRのSEU効果技術

Non-TMR SEU-Hardening Techniques for SiGe HBT Shift Registers and Clock Buffers

著者 (12件)： WILCOX Edward P. (Georgia Inst. Technol., GA, USA) ,  PHILLIPS Stanley D. (Georgia Inst. Technol., GA, USA) ,  CRESSLER John D. (Georgia Inst. Technol., GA, USA) ,  MARSHALL Paul W. (NASA, VA) ,  CARTS Martin A. (NASA, MD) ,  PELLISH Jonathan A. (NASA, MD) ,  RICHMOND Larry (General Dynamics C4 Systems, AZ) ,  MATHES William (General Dynamics C4 Systems, AZ) ,  RANDALL Barbara (Mayo Foundation, MN, USA) ,  POST Devon (Mayo Foundation, MN, USA) ,  GILBERT Barry (Mayo Foundation, MN, USA) ,  DANIEL Erik (Mayo Foundation, MN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57  号： 4,Pt.1  ページ： 2119-2123  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *半導体材料 ,  *HBT【トランジスタ】 ,  *シフトレジスタ ,  *SEU【シングルイベント】 ,  *クロック ,  *符号誤り ,  *誤り率
準シソーラス用語： *SiGe ,  *ビットエラー率

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (7件)： SiGe ,  HBT ,  シフトレジスタ ,  クロック ,  バッファ ,  TMR ,  SEU