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J-GLOBAL ID：201002290163771668   整理番号：10A0605944

現行のMFL試験センサにおける磁場圧縮効果

Magnetic compression effect in present MFL testing sensor

著者 (2件)： SUN Yanhua (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technol., Huazhong Univ. of Sci. and Technol., Wuhan 430074, CHN) ,  KANG Yihua (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technol., Huazhong Univ. of Sci. and Technol., Wuhan 430074, CHN)
資料名： Sensors and Actuators. A. Physical  (Sensors and Actuators. A. Physical)
巻： 160  号： 1-2  ページ： 54-59  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： B0345C  ISSN： 0924-4247  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現行のMFL(漏洩磁束)試験センサの解析に基づいて,現行のMFL試験センサの中のMCE(磁場圧縮効果)の存在を特別に指摘し,関連性のあるMCE理論を解析した。すなわちMCEは,見落とされていた背景磁場が原因でMFLの圧縮時にその体積中に出現する。その後,提案したMCEの存在をシミュレーションと実験によって検証し,この存在が背景磁場が強いほど欠陥形状のMFLは小さいことを示す。その上,MFL試験センサのためのMFL機構を,MCEと結合して一層深く検討した。MCEの発見とその関連する回避はその容積の中でMFLを増加させ,高感度と長い距離の非接触検査法を持つ新しいMFL試験センサの中に結実した。加えて,この研究はMFL機構を明確に豊かな内容にすることにより,MFL試験センサ理論にとって著しく重要である。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *漏れ磁束 ,  磁場 ,  圧縮 ,  磁場効果 ,  効果 ,  *磁気センサ ,  磁束密度 ,  有限要素法 ,  磁気検査
準シソーラス用語： *磁場圧縮効果 ,  背景磁場

分類 (2件)： 磁気の計測法・機器  (AD07060U) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (2件)： 試験 ,  磁場