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J-GLOBAL ID:201002291979916300   整理番号:10A0484673

真空遮断器絶縁フレームの劣化診断手法に関する基礎研究

著者 (6件):
資料名:
号: 327  ページ: 53-56  発行年: 2010年04月26日 
JST資料番号: F0196A  ISSN: 0386-1570  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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配電用変電所で長期間使用された6kV真空遮断器のポリエステル製絶縁フレーム表面の絶縁性能,化学的特性及び設置環境を調査した。従来想定していた劣化メカニズムは比較的劣化後期の現象であるが,本研究では疎水性のポリエステル樹脂が空気中の水分と反応し,水酸基等が生成して親水性に変化した結果,表面抵抗が低下し,部分放電に至ると想定した。撤去した真空遮断器(経年16,20,27,30年)及び新品の絶縁フレームを対象として二重リング電極法による表面抵抗測定と赤外線分光分析による表面及び断面の化学構造分析を行なった。Weibull解析により表面抵抗の低下率と水酸基の増加率は相関関係にあることが分かった。さらに,水酸基測定と劣化加速倍率を用いることにより余寿命推定が可能となった
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分類 (2件):
分類
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開閉装置  ,  絶縁材料 

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