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J-GLOBAL ID：201002292417343249   整理番号：10A0556071

より精密なモデルに基づく電子透かし検出器のリバースエンジニアリング

Reverse-engineering a Watermark Detector based on a More Precise Model

著者 (2件)： YU Jun (Binghamton Univ., NY, USA) ,  CRAVER Scott (Binghamton Univ., NY, USA)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 7542  ページ： 75420C.1-75420C.8  発行年： 2010年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子透かし特徴空間は,電子透かし検出測度として用いている正規化相関を有するn次元であると考え,電子透かし検出境界をn次元Euclid空間の超円錐として表現し,Gauss雑音または均一雑音に曝された電子透かし検出率を解析的に表現した。このため,正規化相関を用いた精密モデルを構築した。このモデルは大きな特徴空間次元を有する電子透かし検出器に関する情報を開示できることを示した。n-円錐とn-球間の交差測度の計算には複雑な数値積分が必要である。

シソーラス用語： 画像圧縮 ,  *電子透かし ,  検出器 ,  モデリング ,  リバースエンジニアリング ,  *画像分析 ,  *特徴抽出 ,  Euclid空間 ,  円錐 ,  球 ,  相関 ,  交差 ,  測度
準シソーラス用語： 検出率 ,  正規化相関

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： モデル ,  電子透かし ,  検出器 ,  リバースエンジニアリング