文献

J-GLOBAL ID：201002292645750610   整理番号：10A1617347

走査型透過X線顕微鏡による元素写像に対する二重エネルギー吸収の比コントラスト撮影

Ratio-contrast imaging of dual-energy absorption for element mapping with a scanning transmission X-ray microscope

著者 (12件)： ZHANG X. Z. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  XU Z. J. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  TAI R. Z. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  ZHEN X. J. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  WANG Y. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  GUO Z. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  YAN R. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  CHANG R. (Shanghai Inst. of Applied Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai, CHN) ,  WANG B. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  LI M. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  ZHAO J. (Inst. of Chemistry, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  GAO F. (Inst. of Chemistry, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 17  号： 6  ページ： 804-809  発行年： 2010年11月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： K吸収端減算の代わりに,K吸収端比を用いて元素分布を調べた。コントラスト閾値は物理的に明確に定義でき,理論で簡単に計算できることを示した。またK吸収端減算に比べ,より定量的且つ精密な元素分布が得られた。この方法を用いて,光子エネルギー137eV(P-2pピーク)と133eV(ピークの前)における二枚の吸収コントラスト画像のディジタル分割により,燐の分布を得た。同様に,K,N,S,Na,Caの分布もこのディジタル比を用いて得られる。

シソーラス用語： *X線顕微鏡 ,  *微量元素 ,  元素分析 ,  *X線吸収端 ,  エネルギー吸収 ,  コントラスト ,  微量分析 ,  吸収係数
準シソーラス用語： 元素分布

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査型透過X線顕微鏡 ,  元素 ,  写像 ,  エネルギー吸収 ,  コントラスト ,  撮影