BAILEY C. A. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
TONDIGLIA V. P. について
Sci. Applications International Corp., 4031 Col Glenn Hwy, Dayton, Ohio 45431, USA について
NATARAJAN L. V. について
Sci. Applications International Corp., 4031 Col Glenn Hwy, Dayton, Ohio 45431, USA について
DUNING M. M. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
BRICKER R. L. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
SUTHERLAND R. L. について
Sci. Applications International Corp., 4031 Col Glenn Hwy, Dayton, Ohio 45431, USA について
WHITE T. J. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
DURSTOCK M. F. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
BUNNING T. J. について
Air Force Res. Lab., Wright Patterson Air Force Base, Dayton, Ohio 45433, USA について
Journal of Applied Physics について
コレステリック相 について
電場効果 について
電気機械効果 について
酸化インジウムスズ について
光学フィルタ について
同調 について
Maxwell応力 について
ガラス基板 について
可変同調 について
光学バンドギャップ について
力センサ について
その他の液晶 について
圧電気,焦電気,エレクトレット について
コレステリック液晶 について
電気機械 について
同調 について