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J-GLOBAL ID：201002292741914550   整理番号：10A1611674

ハイブリッド車用IGBTの宇宙線耐量

Cosmic Ray Ruggedness of IGBTs for Hybrid Vehicles

著者 (7件)： 西田秀一 (トヨタ自動車) ,  大西豊和 (トヨタ自動車) ,  藤川東馬 (トヨタ自動車) ,  野瀬昇 (トヨタ自動車) ,  濱田公守 (トヨタ自動車) ,  庄司智幸 (豊田中研) ,  石子雅康 (豊田中研)
資料名： 電気学会電子デバイス研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： EDD-10  号： 99-117  ページ： 27-31  発行年： 2010年11月29日 
JST資料番号： Z0910A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高地や山岳地帯などを走るハイブリッド車(HV)では,そこに搭載されているモータ電流を制御するIGBTが宇宙線に曝されて故障を起こす怖れがある。本研究においては,HVインバータ用PTおよびFS型IGBTを対象に破壊耐量を測定し,シングルイベント破壊(SEB)閾値電圧はn^-ドリフト層厚に大きく依存することを示した。また,照射試験およびシミュレーションにより,宇宙線による破壊メカニズムを推定し,サイリスタ動作による破壊であることを明らかにした。破壊を抑制するためには,IGBTの寄生pnpおよびnpnのトランジスタの増幅率を小さくすることが重要であることが判明した。

シソーラス用語： *ハイブリッド自動車 ,  *IGBT ,  電装品 ,  モータ制御 ,  インバータ ,  電気故障 ,  *宇宙線照射 ,  シミュレーション ,  バイポーラトランジスタ ,  中性子照射 ,  *照射損傷

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

引用文献 (8件)：

• 松田秀雄, 藤原隆, 日吉道明, 西谷和展, 桑子彰, 池原正:「パワーデバイスへの宇宙線の影響」, 電気学会 電子デバイス, 半導体電力変換合同研究会資料 EDD-94-47, SPC-94-69, pp. 69-75(1994)
• D. L. Oberg, J. L. Wert, E. Normand, P. R. Majewski and S. A. Wender:“First Observation of Power MOSFET Burnout with High Energy Neutrons”, IEEE Transaction on Nuclear Science, Vol.43, No.6, p.2913(1996)
• E. Normand, J. L. Wert, D. L. Oberg, P. R. Majewski, P. Voss and S. A. Wender:“Neutron-Induced Single Event Burnout in High Voltage Electronics”, IEEE Transaction on Neclear Science, Vol.44, No.6, p2358(1997)
• H. Zeller:“Cosmic Ray Induced Failures in High Power Semiconductor Devices”, Microelectronics Reliability, Vol.37, No.10-11, p.1711(1997)
• J. F. Ziegler and W. L. Lanford,“The effect of sea leval cosmic ray on electric devices”, J. Appl. Phys. 52, p.4305(1981)

タイトルに関連する用語 (4件)： ハイブリッド車 ,  IGBT ,  宇宙線 ,  耐量