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J-GLOBAL ID：201002293747140600   整理番号：10A0189222

高温の厚さ方向電場下における分極PZTウエハのドメインスイッチングおよびクリープ挙動

Domain switching and creep behavior of a poled PZT wafer under through-thickness electric fields at high temperatures

著者 (3件)： KIM Sang-joo (Dep. of Mechanical and Information Engineering, Univ. of Seoul, Dongdaemun-gu, Seoul 130-743, KOR) ,  KIM Ju Hong (Dep. of Mechanical and Information Engineering, Univ. of Seoul, Dongdaemun-gu, Seoul 130-743, KOR) ,  LEE Chang-hoan (Korea Inst. of Sci. and Technol. Information, Dongdaemun-gu, Seoul 130-743, KOR)
資料名： Acta Materialia  (Acta Materialia)
巻： 58  号： 6  ページ： 2237-2249  発行年： 2010年04月 
JST資料番号： A0316A  ISSN： 1359-6454  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 様々な一定強度の厚さ方向電場を,4レベルの高温で約1800sの間,分極PZTウェエハに印加した。その後,ウエハを迅速に電場から移動し,ゼロ電場で約1000s保持した。すべての電場および無電場の全時間に亘って,厚さ方向の電場変位およびウエハの面内歪みが測定された。電場強度および温度の違いによる測定応答性を検討し,他研究者のそれと比較した。残留分極値および温度に基づく様々な線形モジュールの依存性を求め,高温におけるウエハのクリープ応答性を比較・検討した。最後に,様々な電場および温度におけるドメインスイッチングプロセスを基準残留分極値に注目して論じた。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  *電場効果 ,  板厚方向 ,  温度依存性 ,  *変位 ,  平面歪 ,  残留分極 ,  電界強度 ,  強誘電分域 ,  *スイッチング ,  *高温クリープ
準シソーラス用語： *素子ウエハ ,  *分域壁 ,  *面内変位

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (7件)： 厚さ方向 ,  電場 ,  分極 ,  PZT ,  ウエハ ,  ドメインスイッチング ,  クリープ挙動