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J-GLOBAL ID：201002297349847898   整理番号：10A0866743

切除平面セグメンテーションのためのレベルセット法を用いたマイクロドリルの自動光学的側面疲労計測

Automatic optical flank wear measurement of microdrills using level set for cutting plane segmentation

著者 (3件)： DUAN Guifang (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  CHEN Yen-Wei (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  SUKEGAWA Takeshi (Remixpoint, Tokyo, JPN)
資料名： Machine Vision and Applications  (Machine Vision and Applications)
巻： 21  号： 5  ページ： 667-676  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： T0616A  ISSN： 0932-8092  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プリント回路ボード(PCB)製造業の急速な成長に伴って重要性を高めている,マイクロドリルビットの自動検査の問題を取り上げ,切除平面セグメンテーションのためのレベルセット法を用いたマイクロドリルの自動光学的側面疲労計測手法を提案した。画像セグメンテーションに対する幾何学的アクティブコンターまたはレベルセット法について具体的な処理内容を示した。レベルセット法を用いた提案手法の評価実験を行い,その処理手順である,マイクロドリルビット画像の獲得,切除平面のセグメンテーション,疲労計測,について詳細な議論を行い,実験結果を示した。その中で,異なる手法による切除平面セグメンテーション結果の比較を行い,提案手法の有効性を確認した。

シソーラス用語： *セグメンテーション ,  *欠陥検査 ,  プリント基板 ,  *数値解法 ,  ドリル ,  計測 ,  疲れ ,  評価試験 ,  *切除平面法
準シソーラス用語： PCB【基板】 ,  マイクロドリル ,  *レベルセット法 ,  疲労 ,  疲労計測

分類 (4件)： パターン認識  (JE07000S) ,  品質検査  (KB04020L) ,  数値計算  (JE02000J) ,  その他のオペレーションズリサーチの手法  (KA03070E)

タイトルに関連する用語 (6件)： セグメンテーション ,  レベルセット法 ,  マイクロドリル ,  光学 ,  疲労 ,  計測