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J-GLOBAL ID：201002297417461731   整理番号：10A1099442

製造誤差に対する感度制御の一般的な方法

General method of sensitivity control for manufacturing errors

著者 (1件)： YABE Akira
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 49  号： 27  ページ： 5175  発行年： 2010年09月20日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本文では,三つの曲面から,製造誤差に対する感度制御を扱う。波面型感度関数を提案し,その効果を変調伝達関数(MTF)式モンテカルロシミュレーションを用いて実証する。次に,MTF式モンテカルロシミュレーション結果の直接最適化を提案する。最後に,より優れたレンズのタイプを得る感度制御関数の効果を示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 誤差 ,  *レンズ設計 ,  *レンズ系 ,  計算機シミュレーション ,  モンテカルロ法 ,  光学伝達関数 ,  感度関数 ,  最適化
準シソーラス用語： MTF【関数】 ,  モンテカルロシミュレーション ,  加工誤差

分類 (1件)： 光学器械要素とその材料  (QF05020K)

タイトルに関連する用語 (2件)： 製造誤差 ,  感度