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J-GLOBAL ID：201002297657202415   整理番号：10A0356676

CK端軟X線吸収測定の光強度モニターに用いる金板の簡易洗浄法

A Practical Cleaning Method of Au Plates for the Beam Monitor in the CK X-Ray Absorption Measurements Using Synchrotron Radiation

著者 (2件)： 村松康司 (兵庫県大 大学院工学研究科) ,  GULLIKSON Eric M. (兵庫県大 大学院工学研究科)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 41  ページ： 127-134  発行年： 2010年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射光を用いたCk吸収端の全電子収量軟X線吸収測定において,金板を光強度モニターとして用いる場合の実用的な洗浄方法を探索した。具体的には,表面に有機・無機炭素を塗布した金板に対して,(1)純水で超音波洗浄,(2)エタノールで超音波洗浄,(3)ラッピングフィルムで表面研磨,および(4)次亜塩素酸ナトリウム(NaClO)溶液に浸漬の各洗浄法を施した。そして,CK領域における各金板の試料電流を計測し,そのスペクトルの形状を解析した。その結果,次亜塩素酸ナトリウム溶液での処理が光強度モニターとしての有機・無機炭素の除去に最も効果的であることが明らかとなった。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線吸収端 ,  *放射強度 ,  *洗浄 ,  監視装置 ,  シンクロトロン放射 ,  *金属板 ,  *金 ,  純水 ,  超音波洗浄 ,  ラッピング ,  ナトリウム化合物 ,  次亜塩素酸塩 ,  浸漬 ,  スペクトル解析 ,  炭素 ,  有機炭素 ,  脂肪族アルコール
準シソーラス用語： *光強度 ,  次亜塩素酸ナトリウム ,  無機炭素

分類 (3件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  分析機器  (CC02020S) ,  その他の表面処理  (WC08070F)

物質索引 (1件)： エタノール

引用文献 (2件)：

• 小西徳三, 私信.
• J. H. Underwood, E. M. Gullikson, M. Koike, P. J. Batson, P. E. Denham, K. D. Franck, R. E. Tackaberry, W. F. Steele: Rev. Sci. Instrum., 67, 3372(1996).

タイトルに関連する用語 (6件)： 軟X線 ,  光強度 ,  モニター ,  金 ,  簡易 ,  洗浄