文献

J-GLOBAL ID：201002297870651215   整理番号：10A0700766

動的光散乱を用いたポリスチレンナノ球に対する精密測定に関する不確定性解析

Uncertainty Analysis on Precision Measurement for Polystyrene Nanospheres Using Dynamic Light Scattering

著者 (5件)： PAN Shan-Peng (National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN) ,  PAN Shan-Peng (Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN) ,  WENG Han-Fu (Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN) ,  LIN Chih-Min (Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN) ,  LIU Tzong-Shi (National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 49  号： 6,Issue 2  ページ： 06GK05.1-06GK05.5  発行年： 2010年06月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 動的光散乱(DLS)はナノ球寸法を測定するために最も一般的に使用される技法である。SI単位に合わせたDLS法の追跡可能性を確立するために,本研究では関連するパラメータを測定した。DLSにおける誤差源についていくつかの研究が報告されている。しかしながら,これらの研究はDLSの不確定性を解析する系統的方法に欠けていた。本論文で我々はDLS法を記述し,測定不確定性予算を紹介する。不確定性評価における基準材料として単分散ポリスチレンラテックス(PSL)球を選択した。測定したナノ球寸法は20,50,100,300,500および1000nmであり,その中でDSLを用いて求めた100,300および500nmナノ球を電気重力エアロゾル収支(EAB)法に対するそれと比較した。両方の方法に対する不確定性を計算し,95%の信頼度で反復測定の結果を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *動的光散乱 ,  *ポリスチレン ,  *ミクロスフェア ,  *計測 ,  パラメータ ,  誤差 ,  ラテックス ,  *信頼度
準シソーラス用語： *ナノ球

分類 (1件)： 光物性一般  (BM08010A)

引用文献 (18件)：

• C. Y. Wang, W. E. Fu, H. L. Lin, and G. S. Peng: Meas. Sci. Technol.18(2007)487.
• R. Horst, J. G. Barry, and H. Winfried: Langmuir 16(2000)471.
• B. J. Frisken: Appl. Opt.40(2001)4087.
• K. N. Pham, S. U. Egelhaaf, A. Moussaid, and P. N. Pusey: Rev. Sci. Instrum.75(2004)2419.
• K. Takahashi, H. Kato, T. Saito, S. Matsuyama, and S. Kinugasa: Part. Part. Syst. Charact.25(2008)31.

タイトルに関連する用語 (6件)： 動的光散乱 ,  ポリスチレン ,  ナノ球 ,  精密測定 ,  不確定性 ,  解析