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J-GLOBAL ID：201002298161507581   整理番号：10A0253589

実際の非解体電気接触界面における測定されたフラクタル特性の解像度依存性

The resolution dependence of measured fractal characteristics for a real un-dismantled electrical contact interface

著者 (1件)： SWINGLER J. (School of Engineering Sciences, Univ. of Southampton, Highfield, Southampton SO17 1BJ, GBR)
資料名： Wear  (Wear)
巻： 268  号： 9-10  ページ： 1178-1183  発行年： 2010年03月25日 
JST資料番号： E0377A  ISSN： 0043-1648  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： その試料の解体を必要とせずに,X線計算機トモグラフィー(CT)画像からの「接触マップ」によって,電気接触界面を可視化する。その界面において,8.0μm×8.0μm×8.0μmの体積と関連した各画素を有した「1,500画素×1,500画素」から,その接触マップを近似的に構成する。ケーブルラグをプリント回路基板に結合して,試料を構成する。1.6kNの垂直力を有した接触界面において,測定されたフラクタル特性の解像度依存性を調べる。その接触の総合的な機械的領域(A_m)は,解像度に対して不変量であることを見出し,その一方,最大の接触点サイズ(A_L)は,より高い解像度に伴って減少することを見出す。接触の明確な領域上のスポット数は,解像度の増加に伴って増加するが,しかし,より高い解像度においては,一つのスポットは,それ自体の中の非接触面積を増加することを見出す。そのスポット領域のフラクタル次元(D)は,自己親和性挙動と一致したより低い解像度においては,1に集中することを見出す。また,より高い解像度においては,Dは,2未満の値へ集中することを見出す。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *電気接点 ,  *プリント基板 ,  *界面電気現象 ,  *フラクタル次元 ,  *トライボロジー ,  接触機構 ,  鉛直荷重 ,  親和性 ,  集中化 ,  画素 ,  分解能 ,  写像 ,  計算機トモグラフィー ,  破面検査 ,  X線画像 ,  画像分析
準シソーラス用語： CT【トモグラフィー】 ,  X線CTスキャナ ,  X線フラクトグラフィー ,  マッピング法 ,  解像度

分類 (3件)： 電気接点  (NA05070V) ,  潤滑一般  (QB02010S) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 解体 ,  電気接触 ,  界面 ,  フラクタル ,  解像度 ,  依存性