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J-GLOBAL ID：201002299173922041   整理番号：10A0798244

広帯域照明による近接場走査型光学顕微鏡法のための逆散乱

Inverse scattering for near-field scanning optical microscopy with broadband illumination

著者 (4件)： DAVIS Brynmor J. (Univ. Illinois, Illinois, USA) ,  SUN Jin (Univ. Illinois, Illinois, USA) ,  SCHOTLAND John C. (Univ. Pennsylvania, Pennsylvania, USA) ,  CARNEY P. Scott (Univ. Illinois, Illinois, USA)
資料名： Journal of Modern Optics  (Journal of Modern Optics)
巻： 57  号： 9  ページ： 809-815  発行年： 2010年05月20日 
JST資料番号： D0250A  ISSN： 0950-0340  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異なる波長に対する近接場走査型光学顕微鏡(NSOM)の多重二次元画像から逆散乱手順により試料の三次元構造を再構成する近接場走査型光トモグラフィー(NSOT)の新しい方式を提案し,その理論を示した。理論解析はスカラーとベクトルの二種類のモデルを取上げ,それぞれの順散乱問題と逆散乱問題を定式化した。試験試料を定義する合成データを用いて数値シミュレーションを行い,この広帯域(多波長)NSOMの性能を調べた。また,このNSOMのスペクトル自由度内の情報を増強し観測角の数を減らすと,三次元構造の撮像がどのように可能になるかを示した。このようなシステムは低コヒーレンス干渉計とファイバ型NSOMを結合することで実現できる。

シソーラス用語： *光学顕微鏡法 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  *走査光学顕微鏡 ,  *逆散乱法 ,  画像再構成 ,  立体構造 ,  *トモグラフィー ,  画像診断 ,  数値解析 ,  解析モデル ,  定式化 ,  計算機シミュレーション ,  照明 ,  広帯域 ,  画像処理
準シソーラス用語： 逆散乱問題 ,  *近接場走査光学顕微鏡 ,  *光トモグラフィー

分類 (2件)： 光学情報処理  (BD03060T) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 広帯域 ,  照明 ,  近接場 ,  走査型光学顕微鏡 ,  散乱