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J-GLOBAL ID：201002299267756897   整理番号：10A0286878

測定化固有周波数を用いた材料層の広帯域誘電体特性の抽出

Extraction of the Wideband Dielectric Properties of a Material Layer Using Measured Natural Frequencies

著者 (1件)： ROTHWELL Edward J. (Michigan State Univ., MI, USA)
資料名： IEEE Transactions on Antennas and Propagation  (IEEE Transactions on Antennas and Propagation)
巻： 58  号： 2  ページ： 620-623  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： C0218A  ISSN： 0018-926X  CODEN： IETPAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波周波数広帯域における材料の電気特性決定では,材料が単純誘電体の場合でも課題が残っている。誘電体が低損失である場合,共振器法に依存せずに高い精度の複素誘電率虚数部を決定することは難しい。本論文では,誘電率のためのおよび固有周波数予測のための分散モデルを用いた低損失誘電体の周波数依存複素誘電率決定のための新しい手法につき報告した。導電体背面化誘電体層のための測定と予測周波数との差分最小化により,固有周波数データから本モデルパラメータを抽出した。三つの導体背面化低損失材料に対する時間領域実験システムの測定結果は,本手法が2~18GHz測定帯域において一貫性ある結果を導くことを示した。

シソーラス用語： 固有振動数 ,  *誘電材料 ,  特徴抽出 ,  複素誘電率 ,  解析モデル ,  数学モデル ,  パラメータ ,  電磁場解析
準シソーラス用語： モデルパラメータ ,  *固有周波数 ,  時間領域解析 ,  *特性抽出 ,  複素比誘電率 ,  分散モデル ,  誘電体材料

分類 (2件)： 誘電体一般  (BM05010F) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 固有周波数 ,  材料層 ,  広帯域 ,  誘電体