特許
J-GLOBAL ID：201003000061020906

光パルス試験器

発明者：
増原 恵太

増原 恵太 について

, 
柳澤 加寿子

柳澤 加寿子 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-264046
公開番号（公開出願番号）：特開2010-091521
出願日： 2008年10月10日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：
【課題】損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。【解決手段】 表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段とを備えた光パルス試験器において、表示データ作成手段で作成した表示データに基づいて仮の損失分布変極点を検出し、仮の損失分布変極点近傍の測定データに基づいて真の損失分布変極点を特定するとともに真の損失分布変極点を含むイベントを解析する解析手段を備えた。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被測定光ファイバ(70)にパルス光(Po)を一定周期で出射するパルス光源(50)と、前記被測定光ファイバからの戻り光(Pr)を受光して電気信号に変換する受光器(54)と、該受光器の出力信号を所望のサンプリング間隔で順次デジタル信号に変換するA/D変換器(55)と、該A/D変換器の出力信号を被測定光ファイバの損失分布特性の測定データとして記憶する波形メモリ(56)と、前記損失分布特性とその解析結果を表示する表示手段(61)と、前記波形メモリに記憶した前記測定データから前記表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段(60)とを備えた光パルス試験器において、 前記表示データ作成手段(60)で作成した前記表示データに基づいて仮の損失分布変極点を推定し、かつ、この推定した仮の損失分布変極点の近傍における測定データに基づいて正確な損失分布変極点を特定するとともに、前記正確な損失分布変極点を含むイベントを解析する解析装置(2)を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (1件)：
G01M 11/00
FI (1件)：
G01M11/00 R
Fターム (1件)：
2G086CC03
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • 特許第3002343号
  • 光パルス試験器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-197658   出願人：アンリツ株式会社
  • 特公平7-92421号
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審査官引用 (3件)

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