特許

J-GLOBAL ID：201003000317527540

発光素子測定装置

発明者： 中西 一夫 ,  大尾 幸司 ,  森田 真琴 ,  折戸 光也 ,  稲葉 信彦
出願人/特許権者： 星和電機株式会社
代理人 (1件)： 大西 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-066798
公開番号（公開出願番号）：特開2010-217109
出願日： 2009年03月18日
公開日（公表日）： 2010年09月30日
要約：

【課題】上面発光構造やフリップチップ構造の種類に関係なく、各光学素子の光学特性を簡単に測定することを可能にする。【解決手段】上面発光チップ101A又はフリップチップ101Bが計測ステージ10に置かれ、同チップ101A等の電極にプローブ20の先端が接触すると、同チップ101A等が発光する。上面発光チップ101Aの場合、電極同一面から光が出力され、上側反射板30の光拡散反射面31等で散乱反射を繰り返し、その全光束の殆どが光ファイバ50の先端部に入射する。フリップチップ101Bの場合、電極反対面から光が出力され、透明な計測ステージ10を透過し、下側反射板40の光拡散反射面41で散乱反射し、その後、上側反射板30の光拡散反射面31等で散乱反射を繰り返し、その全光束の殆どが光ファイバ50の先端部に入射する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

LEDチップその他の発光素子が面上に置かれる透明な計測ステージと、計測ステージ上の所定位置に置かれた発光素子の電極に接触して通電するための電極部と、発光素子対向位置に配設され且つ略半球面状の光拡散反射面を内側に有した第1の反射部と、計測ステージを挟んだ第1の反射部の対向位置に配設され且つ略半球面状の光拡散反射面を内側に有した第2の反射部と、第1の反射部若しくは第2の反射部に又はこれらの近くに配置され且つ前記発光素子から出力された光束を受ける受光部とを備えたことを特徴とする発光素子測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G01J 1/00

FI (2件)：

G01M11/00 T ,  G01J1/00 C

Fターム (6件)：

2G065AA04 ,  2G065AB28 ,  2G065BB02 ,  2G065BB05 ,  2G065BB41 ,  2G086EE03

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 光学特性測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-179184   出願人：星和電機株式会社, 昭和電工株式会社
• 光学特性測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-213221   出願人：星和電機株式会社
• 光学特性測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-047605   出願人：星和電機株式会社, 昭和電工株式会社
• 特開平3-162634