特許
J-GLOBAL ID:201003000794020066

キャパシタ劣化判断方法及び作業機械

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 高橋 敬四郎 ,  来山 幹雄 ,  鵜飼 伸一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-003278
公開番号(公開出願番号):特開2010-160091
出願日: 2009年01月09日
公開日(公表日): 2010年07月22日
要約:
【課題】 キャパシタの劣化判断を、より高精度に行う方法を提供する。【解決手段】 内部抵抗と静電容量との測定結果から、キャパシタの内部抵抗に依存し、内部抵抗の増加に関して単調に変化する内部抵抗劣化指数、及び静電容量に依存し、静電容量の低下に関して単調に変化する静電容量劣化指数を算出する。一方の指数を一方の軸とし、他方の指数を他方の軸とする直交座標系内に、内部抵抗の増加量及び静電容量の低下量が共に0となる開始点、及び内部抵抗の増加量及び静電容量の低下量が共に許容限界値となる許容限界点を対角の2つの頂点とする長方形を定義する。この長方形の開始点に連続する一対の辺のうち一方の辺上の点と、他方の辺上の点と結ぶ第1の境界線を定義する。算出された2つの指数で示される現在の状態を示す点が、開始点から見て、第1の境界線を越えているか否かを判定する。判定結果に基づいて、キャパシタの劣化状態を判断する。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
キャパシタの内部抵抗及び静電容量を測定する工程と、 前記キャパシタの内部抵抗に依存し、該内部抵抗の増加に関して単調に変化する内部抵抗劣化指数、及び前記キャパシタの静電容量に依存し、該静電容量の低下に関して単調に変化する静電容量劣化指数を、測定された前記内部抵抗及び前記静電容量から算出する工程と、 前記内部抵抗劣化指数を一方の軸とし、前記静電容量劣化指数を他方の軸とする直交座標系を定義し、該座標系内に、前記内部抵抗の増加量及び前記静電容量の低下量が共に0となる開始点、及び前記内部抵抗の増加量及び前記静電容量の低下量が共に許容限界値となる許容限界点を対角の2つの頂点とする長方形を定義し、該長方形の開始点に連続する一対の辺のうち一方の辺上の点と、他方の辺上の点とを、前記長方形内を通って結ぶ第1の境界線が定義されており、算出された前記内部抵抗劣化指数及び静電容量劣化指数で示される現在の状態を示す点が、前記開始点から見て、前記第1の境界線を越えているか否かを判定する工程と、 前記現在の状態を示す点が、前記第1の境界線を越えているき、前記キャパシタが第1の劣化状態にあると認定する工程と を有するキャパシタ劣化判断方法。
IPC (4件):
G01R 31/00 ,  H02M 3/155 ,  E02F 9/26 ,  H02J 7/00
FI (4件):
G01R31/00 ,  H02M3/155 C ,  E02F9/26 Z ,  H02J7/00 Q
Fターム (29件):
2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036AA24 ,  2G036BA36 ,  2G036BA37 ,  2G036BB02 ,  2G036CA12 ,  5G503AA07 ,  5G503BA01 ,  5G503BB03 ,  5G503DA07 ,  5G503DA15 ,  5G503EA09 ,  5G503FA06 ,  5G503GB03 ,  5G503GB06 ,  5G503GD03 ,  5H730AA20 ,  5H730AS04 ,  5H730AS13 ,  5H730BB14 ,  5H730BB61 ,  5H730DD04 ,  5H730DD16 ,  5H730EE13 ,  5H730FD01 ,  5H730FD31 ,  5H730XX03 ,  5H730XX12
引用特許:
審査官引用 (2件)

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