光断層画像の撮像方法及びその装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長尾達也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-124135
公開番号（公開出願番号）：特開2010-188114
出願日： 2009年05月22日
公開日（公表日）： 2010年09月02日
要約：

【課題】画像のつなぎ合わせの処理が簡便で、感度、分解能などにばらつきが少ないOCT像を、高速に取得することが可能となる光断層画像の撮像方法等を提供する。【解決手段】被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、走査光学系により同一方向に走査される前記複数の光からなる測定光の各スポットによる走査領域の走査方向に垂直な方向の大きさが、各スポットのそれぞれを合計した大きさよりも小さくなるようにして、複数の光からなる測定光の各スポットを同一方向に走査し、被検査物の異なるスポット位置に照射する工程と、前記複数の光からなる測定光による戻り光と、参照ミラーによって反射された前記複数の光からなる参照光と、による干渉信号を検出する工程と、該検出された少なくとも2つのスポットによる干渉信号を用い、各スポットの位置ずれ量を元にして演算処理し、信号雑音比を向上させる信号処理工程と、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源から出射され複数に分割された光を、該分割された複数の光からなる測定光と参照光とに更に分割し、該測定光を被測定対象である被検査物に導くと共に該参照光を参照ミラーに導き、前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記複数の光からなる測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記複数の光からなる参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、前記複数の光からなる測定光を前記被検査物に導くに際し、前記複数の光からなる測定光を走査する走査光学系を用い、該走査光学系により同一方向に走査される前記複数の光からなる測定光の各スポットによる走査領域の走査方向に垂直な方向の大きさが、該各スポットのそれぞれを合計した大きさよりも小さくなるようにして、前記複数の光からなる測定光の各スポットを同一方向に走査し、該複数の光からなる測定光を、照射光学系を介して前記被検査物の異なるスポット位置に照射する工程と、前記被検査物の異なるスポット位置に照射された前記複数の光からなる測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記複数の光からなる参照光と、による干渉信号を検出する工程と、前記検出された各スポットに対応する干渉信号のうち、少なくとも2つのスポットによる干渉信号を用い、前記異なるスポット位置に照射された各スポットの位置ずれ量を元にして演算処理し、信号雑音比を向上させる信号処理工程と、を有することを特徴とする光断層画像の撮像方法。

IPC (5件)：

A61B 3/10 , A61B 3/12 , G01N 21/17 , A61B 10/00 , G01B 11/24

FI (5件)：

A61B3/10 R , A61B3/12 E , G01N21/17 630 , A61B10/00 E , G01B11/24 D

Fターム (38件)：

2F065AA53 , 2F065CC16 , 2F065FF04 , 2F065FF52 , 2F065GG06 , 2F065HH04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ25 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065LL13 , 2F065LL42 , 2F065LL67 , 2F065MM16 , 2F065QQ16 , 2F065QQ27 , 2F065QQ34 , 2F065QQ42 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059EE17 , 2G059FF02 , 2G059GG02 , 2G059HH01 , 2G059HH08 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059LL01 , 2G059MM01 , 2G059NN01

引用特許：

審査官引用 (1件)

高分解能コヒーレント光画像化のための方法及び装置
公報種別：公表公報出願番号：特願2002-509751 出願人：ユニヴァーシティーヘルスネットワーク

前のページに戻る