特許
J-GLOBAL ID:201003004444416515
ターゲット分子の評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
土井 健二
, 林 恒徳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-303621
公開番号(公開出願番号):特開2010-127804
出願日: 2008年11月28日
公開日(公表日): 2010年06月10日
要約:
【課題】高選択性で低ノイズの新規なターゲット分子の物性値の評価方法を提供する。【解決手段】マーカーを備えたプローブ分子に結合したターゲット分子の評価方法において、基板上に設けられた基板電極と対向電極との間に交流電圧を与え、交流電圧の周波数を変更した際に基板電極上に結合したプローブ分子に備えられたマーカーから得られる信号あるいは信号の平均値を用いて、ターゲット分子のストークス半径または分子量、プローブ分子とターゲット分子との間の結合速度、結合速度定数、解離速度および解離速度定数の少なくともいずれか一つを決定する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
マーカーを備えたプローブ分子に結合したターゲット分子の評価方法であって、
基板上に設けられた基板電極と対向電極との間に交流電圧を与え、
前記交流電圧の周波数を変更した際に前記基板電極上に結合した前記プローブ分子に備えられた前記マーカーから得られる信号を用いて、前記ターゲット分子のストークス半径または分子量を決定する、ターゲット分子の評価方法。
IPC (6件):
G01N 33/543
, G01N 27/327
, G01N 37/00
, G01N 27/00
, G01N 21/78
, G01N 21/64
FI (8件):
G01N33/543 593
, G01N33/543 575
, G01N27/30 351
, G01N37/00 102
, G01N27/00 Z
, G01N21/78 C
, G01N21/64 F
, G01N21/64 C
Fターム (21件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GB12
, 2G043HA05
, 2G054AA06
, 2G054CA22
, 2G054CE02
, 2G054EA03
, 2G054FA16
, 2G054FB02
, 2G054FB03
, 2G054GE01
, 2G060AA15
, 2G060AF01
, 2G060AG06
, 2G060AG11
, 2G060HA02
, 2G060HC14
引用特許:
出願人引用 (2件)
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被検体評価装置および被検体評価方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-238696
出願人:富士通株式会社
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米国特許出願公開第2005/069932号明細書(クレーム)
審査官引用 (3件)
引用文献:
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