特許
J-GLOBAL ID：201003004602773908

形状測定装置およびプログラム

発明者：
北村 和男

北村 和男 について

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高地 伸夫

高地 伸夫 について

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渡邉 広登

渡邉 広登 について

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山田 光晴

山田 光晴 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 末成 幹生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-308049
公開番号（公開出願番号）：特開2010-133752
出願日： 2008年12月02日
公開日（公表日）： 2010年06月17日
要約：
【課題】重複画像における誤対応点を自動判定することで、三次元形状の測定に必要な初期値を始めとする測定値を自動で取得する。【解決手段】 形状測定装置1は、重複撮影領域で測定対象物18を撮影する撮影部2〜9と、撮影部2〜9によって撮影された重複画像における測定対象物18の特徴点の位置を対応付ける特徴点対応付部21と、特徴点対応付部で対応付けた特徴点同士を線分で結び三角形網を形成する三角形網形成部23と、三角形網形成部23で形成した三角形網の辺長、面積、角度の少なくとも一つに基づき、誤対応点を判定する誤対応点判定部24と、誤対応点判定部24で誤対応点と判定された点を除いた特徴点の位置等に基づき、測定対象物18のの三次元形状を求める三次元形状測定部25とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の撮影位置から重複した撮影領域で、測定対象物を撮影する撮影部と、 前記撮影部によって撮影された重複画像における前記測定対象物の特徴点の位置を対応付ける特徴点対応付部と、 前記特徴点対応付部で対応付けた特徴点同士を線分で結び三角形網を形成する三角形網形成部と、 前記三角形網形成部で形成した三角形網の辺長、面積、角度の少なくとも一つに基づき、誤対応点を判定する誤対応点判定部と、 前記誤対応点判定部で誤対応点と判定された点を除いた特徴点の位置および前記複数の撮影位置に基づき、前記測定対象物の特徴点の三次元座標または前記測定対象物の三次元形状を求める三次元形状測定部と、を備えることを特徴とする形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/26 ,  G01C 11/02
FI (3件)：
G01B11/24 K ,  G01B11/26 H ,  G01C11/02
Fターム (29件)：
2F065AA04 ,  2F065AA12 ,  2F065AA17 ,  2F065AA37 ,  2F065AA39 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF05 ,  2F065FF17 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL16 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13
引用特許：
出願人引用 (2件)

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