特許
J-GLOBAL ID:201003009557697229

センサ診断方法およびセンサ診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-125951
公開番号(公開出願番号):特開2010-276339
出願日: 2009年05月26日
公開日(公表日): 2010年12月09日
要約:
【課題】本発明の目的は、異常の種類を区別可能なセンサ診断方法および装置を提供することである。【解決手段】本発明は、あらかじめ設定した正常データから異常状態のデータ分布を推定して異常データを作成しておき、入力した複数の前記診断データが前記正常データと前記異常データのいずれの分布に近いか判定するとともに、前記診断データの状態を判定し、前記診断データの状態と過去の診断データの状態に基づき、センサの異常の種類を判定することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
複数のプロセス値である診断データからセンサの状態を診断するセンサ診断方法において、 あらかじめ設定した正常データから異常状態のデータ分布を推定して異常データを作成しておき、入力した複数の前記診断データが前記正常データと前記異常データのいずれの分布に近いか判定するとともに、前記診断データの状態を判定し、前記診断データの状態と過去の診断データの状態に基づき、センサの異常の種類を判定することを特徴とするセンサ診断方法。
IPC (1件):
G01M 19/00
FI (1件):
G01M19/00 Z
Fターム (7件):
2G024AD33 ,  2G024BA27 ,  2G024CA02 ,  2G024CA13 ,  2G024CA16 ,  2G024CA17 ,  2G024FA03

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