キラル識別又は光学純度測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：福森久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-216554
公開番号（公開出願番号）：特開2010-054216
出願日： 2008年08月26日
公開日（公表日）： 2010年03月11日
要約：

【課題】比旋光度測定やクロマトグラフィーが困難な場合にも実施可能な、新たなキラル識別および光学純度測定の方法を提供すること。【解決手段】光学活性を有するキラル識別剤を用いて、透過テラヘルツ波または反射テラヘルツ波を計測することによって測定対象物質のキラル識別または光学純度測定を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光学活性物質とキラル識別剤との間で分子間相互作用が生じる状態にして0.01〜30THzの波を照射することを特徴とする光学活性物質を含む試料のキラル識別又は光学純度測定。

IPC (1件)：

G01N 21/35

FI (1件)：

G01N21/35 Z

Fターム (8件)：

2G059AA02 , 2G059BB01 , 2G059BB04 , 2G059BB08 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059HH01 , 2G059KK01

引用特許：

出願人引用 (2件)

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