特許

J-GLOBAL ID：201003009664110320

寸法測定方法及び寸法測定装置

発明者： 徐 剛 ,  中山 貴央 ,  松村 繁 ,  森下 由喜夫 ,  長谷川 基行 ,  小峯 岳央
出願人/特許権者： 株式会社三次元メディア ,  株式会社イシダ
代理人 (1件)： 渡辺 三彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-170741
公開番号（公開出願番号）：特開2010-008352
出願日： 2008年06月30日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：

【課題】 測定対象物及び該測定対象物の面上に配置された基準長を示す基準尺を含む1つの画像から前記測定対象物の各辺の寸法を測定する寸法測定装置を提供する。【解決手段】 直方体形状の測定対象物1及び該測定対象物1の面上に予め配置された基準長を示す基準尺2を含む画像を撮像する撮像手段20と、該撮像手段20により撮像された前記画像から前記測定対象物1の頂点及び前記基準尺2を抽出する画像処理手段と、抽出された前記頂点の前記画像平面上における2次元座標から前記測定対象物1の3次元空間における位置・姿勢及び寸法のパラメータを求め、前記基準尺2を用いて、実空間における距離と前記3次元空間における距離との比率である空間のスケールを求め、該空間のスケール及び前記パラメータに基づいて、前記測定対象物1の各辺の寸法を算出する寸法算出手段と、を備える寸法測定装置100。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

直方体形状の測定対象物の各辺の寸法を測定する寸法測定方法において、 前記測定対象物の面上又は該測定対象物の面の延長平面上に基準長を示す基準尺を配置し、 前記測定対象物及び前記基準尺の全体が収まり、且つ、前記測定対象物の2つ以上の面が写るように撮影して、1つの画像を生成し、 生成した前記画像から前記測定対象物の頂点及び前記基準尺を抽出し、 抽出した前記頂点の前記画像平面上における2次元座標から前記測定対象物の3次元空間における位置・姿勢及び寸法のパラメータを求め、 前記基準尺を用いて、実空間における距離と前記3次元空間における距離との比率である空間のスケールを求め、 該空間のスケール及び前記パラメータに基づいて、前記測定対象物の各辺の寸法を算出することを特徴とする寸法測定方法。

IPC (1件)：

G01B 11/02

FI (1件)：

G01B11/02 H

Fターム (9件)：

2F065AA23 ,  2F065AA24 ,  2F065BB05 ,  2F065EE08 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ31

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 情報読取処理装置、その制御方法、及び情報記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-105697   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 寸法測定機能を有する端末装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-083058   出願人：富士通フロンテック株式会社