特許
J-GLOBAL ID:201003011332210104

量子計算機および量子計算方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (21件): 鈴江 武彦 ,  蔵田 昌俊 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  福原 淑弘 ,  峰 隆司 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  風間 鉄也 ,  勝村 紘 ,  河井 将次 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓 ,  市原 卓三 ,  山下 元
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-211905
公開番号(公開出願番号):特開2010-048952
出願日: 2008年08月20日
公開日(公表日): 2010年03月04日
要約:
【課題】理想的な量子計算機の実現。【解決手段】物理系A、B、Cごとが3つの異なるエネルギー状態|0>x、|1>x、|e>xを有し、|0>xあるいは|1>xあるいは|0>xと|1>xとの量子力学的な重ね合わせの状態で量子ビットを表す場合に、複数の物理系A、B、Cを含む薄膜A、B、Cが、下から順に薄膜Aから始まって、薄膜B、薄膜C、薄膜Aと順に繰り返し重ねられた積層部103と、隣接する薄膜の状態に依存した遷移角周波数に対応した光であり、かつ、スペクトル幅が互いの角周波数差よりも狭い光を発生して、積層部の薄膜に照射する光源部101と、光の周波数と強度とを制御する制御装置部と、薄膜A(E)中の物理系集団A(E)からの発光や物理系集団A(E)を通りぬけてくる光の透過光強度を測定することにより物理系集団のA(E)の量子状態を測定する量子ビット読み出し部105と、を具備する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
3種類の物理系、物理系A、物理系B、物理系Cに関して、それぞれが3つの異なるエネルギー状態|0>x、|1>x、|e>xを有し、|0>xあるいは|1>xあるいは|0>xと|1>xとの量子力学的な重ね合わせの状態で量子ビットを表す場合に(x=A,B,C、添え字のxは物理系xの状態であることを表す)、複数の物理系Aからなる物理系集団Aを含む薄膜Aと、複数の物理系Bからなる物理系集団Bを含む薄膜Bと、複数の物理系Cからなる物理系集団Cを含む薄膜Cが、下から順に薄膜Aから始まって、薄膜B、薄膜C、薄膜A、薄膜B、薄膜C、薄膜A、...と順に繰り返し重ねられた積層部と、 一番下の薄膜A(薄膜A(E)とする)中の前記物理系集団A(物理系集団A(E)とする)の|y>A(E)-|e>A(E)間遷移角周波数に関して(y=0,1)、上に隣接する薄膜B中の物理系集団Bが|y’>B(y’=0,1)にある場合の遷移角周波数をωA(E),ye,gとし、該物理系集団Bが|e>Bにある場合の遷移角周波数をωA(E),ye,eとし、下から2番目以降の薄膜x中の物理系集団xの|y>x-|e>x間遷移角周波数に関して、下に隣接する薄膜中の物理系集団が|y>にあり、上に隣接する薄膜中の物理系集団が|y’>にある場合の遷移角周波数をωx,ye,ggとし、下に隣接する薄膜中の物理系集団が|y>にあり、上に隣接する薄膜中の物理系集団は|e>にある場合の遷移角周波数をωx,ye,geとし、下に隣接する薄膜中の物理系集団が|e>にあり、上に隣接する薄膜中の物理系集団は|y’>にある場合の遷移角周波数をωx,ye,egとし、下に隣接する薄膜中の物理系集団が|e>にあり、上に隣接する薄膜中の物理系集団も|e>にある場合の遷移角周波数をωx,ye,eeとした場合に、角周波数がそれぞれωA(E),ye,g、ωA(E),ye,e、ωx,ye,gg、ωx,ye,ge、ωx,ye,eg、ωx,ye,eeである光であり、かつ、スペクトル幅が互いの角周波数差よりも狭い光を発生して、前記積層部の薄膜に照射する光源部と、 前記光の周波数と強度とを制御する制御装置部と、 薄膜A(E)中の物理系集団A(E)からの発光や物理系集団A(E)を通りぬけてくる光の透過光強度を測定することにより物理系集団のA(E)の量子状態を測定する量子ビット読み出し部と、を具備することを特徴とする量子計算機。
IPC (1件):
G02F 3/00
FI (1件):
G02F3/00
Fターム (7件):
2K002AA03 ,  2K002AB21 ,  2K002BA02 ,  2K002CA02 ,  2K002CA23 ,  2K002DA05 ,  2K002GA10

前のページに戻る