特許

J-GLOBAL ID：201003012691297106

異状検査装置

発明者： 齋藤 達彦 ,  尾崎 幸洋
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社 ,  学校法人関西学院
代理人 (5件)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  黒木 義樹 ,  近藤 伊知良 ,  柴田 昌聰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-126521
公開番号（公開出願番号）：特開2010-276361
出願日： 2009年05月26日
公開日（公表日）： 2010年12月09日
要約：

【課題】測定光による検査対象物の損傷等を抑制しながら高い精度で異状検査を行う。【解決手段】異状検査装置1では、ベルトコンベア2が動くことにより、製造ラインに沿った載置面2b上に載置された検査対象物3が製造ラインに沿って輸送される。検査対象物3が進行方向2aに進むと同時に、検出ユニット20の視野領域L1上に載置された検査対象物3に対してSC(スーパーコンティニューム)光源11から出射された近赤外光L1を照射部12から照射し、検査対象物3からの拡散反射光L2を分光器22で分光し受光部23において検出し、分析部30において分析を行うことにより、検査対象物3の異状検査が行われる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

製造ラインに沿った載置面上に載置され当該製造ラインに沿って輸送される検査対象物の検査を行う異状検査装置であって、 近赤外光を出力するスーパーコンティニューム光源と、 前記製造ライン上を移動する前記検査対象物の移動方向に対して略垂直に延在するライン状の照射領域に対して前記スーパーコンティニューム光源から出力された近赤外光を照射する照射手段と、 前記照射手段から出力された近赤外光のうち前記検査対象物により拡散反射した拡散反射光を、前記照射領域の延在方向に対して垂直な方向に分光する分光器と、 複数の受光素子が受光面上に2次元配列され、前記分光器によって分光された光を受光する受光器と、 前記受光器によって受光された光に基づいて前記検査対象物の異状の有無を分析する分析部と、 を備えることを特徴とする異状検査装置。

IPC (4件)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/27 ,  G01V 8/12

FI (4件)：

G01N21/85 A ,  G01N21/35 Z ,  G01N21/27 B ,  G01V9/04 A

Fターム (29件)：

2G051AA02 ,  2G051AA04 ,  2G051AA05 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051BA06 ,  2G051BB09 ,  2G051BB17 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G051CC15 ,  2G051DA06 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059BB11 ,  2G059CC09 ,  2G059CC20 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM04