特許

J-GLOBAL ID：201003013034706655

磁気センサおよび漏洩磁束探傷装置

発明者： 奈良 高明
出願人/特許権者： 国立大学法人電気通信大学
代理人 (2件)： 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-186463
公開番号（公開出願番号）：特開2010-025710
出願日： 2008年07月17日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：

【課題】検査対象の漏洩磁束を発生させる欠陥位置を、少ないセンサで簡単に推定できるようにする。【解決手段】円環の第1コイルと第2コイルの各々の中心を所定距離ずらして同一平面で重ねて配置した第1センサと、円環の第3コイルと第4コイルの各々の中心を所定距離ずらして同一平面で重ねて配置し、第1センサと各々の中心を合わせかつ前記中心を回転中心にして同一平面で90度回転した状態で重ねて配置した第2センサを含む磁気センサを使用する。各センサからの出力を検出して円周上の磁場のフーリエ係数(正弦関数、余弦関数の重みをつけて積分した値)を、荷重和の計算をすることなく、磁気センサから直接得られる。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

円環の第1コイルと第2コイルの各々の中心を所定距離ずらして同一平面で重ねて配置した第1センサと、 円環の第3コイルと第4コイルの各々の中心を所定距離ずらして同一平面で重ねて配置し、第1センサと各々の中心を合わせかつ前記中心を回転中心にして同一平面で90度回転した状態で重ねて配置した第2センサと、 を含む磁気センサ。

IPC (2件)：

G01N 27/83 ,  G01R 33/02

FI (2件)：

G01N27/83 ,  G01R33/02 B

Fターム (20件)：

2G017AA04 ,  2G017AD02 ,  2G017BA15 ,  2G017CB02 ,  2G017CB16 ,  2G017CB23 ,  2G053AA11 ,  2G053AB22 ,  2G053BA15 ,  2G053BB03 ,  2G053BC01 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA18 ,  2G053CB21 ,  2G053CB26 ,  2G053DA06 ,  2G053DA09 ,  2G053DB04 ,  2G053DB24