特許
J-GLOBAL ID:201003013367995387
電磁波放射体・電磁波吸収体
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-033853
公開番号(公開出願番号):特開2010-192581
出願日: 2009年02月17日
公開日(公表日): 2010年09月02日
要約:
【課題】大きなピークや傾斜をもたない平坦なスペクトルを示す、換言すれば、より一層広い波長範囲に渡って一様に高い放射率特性を得ることができる電磁波放射体を提供する。【解決手段】規則的な方向に配向した複数のカーボンナノチューブから成るカーボンナノチューブ配向集合体を備える電磁波放射体であって、前記カーボンナノチューブ配向集合体が、かさ密度が0.002〜0.2g/cm3であり、かつ厚みが10μm以上であると共に、その配向度が、特定の条件で定義されるものとすること。【選択図】図1
請求項(抜粋):
規則的な方向に配向した複数のカーボンナノチューブから成るカーボンナノチューブ配向集合体を備える電磁波放射体であって、
前記カーボンナノチューブ配向集合体が、かさ密度が0.002〜0.2g/cm3であり、かつ厚みが10μm以上であると共に、その配向度が、
1.CNTの長手方向に平行な第1方向と、該第1方向に直交する第2方向とからX線を入射してX線回折強度を測定(θ-2θ法)した場合に、前記第2方向からの反射強度が、前記第1方向からの反射強度より大きくなるθ角と反射方位とが存在し、且つ前記第1方向からの反射強度が、前記第2方向からの反射強度より大きくなるθ角と反射方位とが存在すること。
2.CNTの長手方向に直交する方向からX線を入射して得られた2次元回折パターン像でX線回折強度を測定(ラウエ法)した場合に、異方性の存在を示す回折ピークパターンが出現すること。
3.ヘルマンの配向係数が、0より大きく1より小さいこと。
の少なくともいずれか1つで定義されることを特徴とする電磁波吸収体。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (12件):
2H048CA05
, 2H048CA12
, 2H048CA13
, 2H048CA14
, 5E040AA11
, 5E040CA13
, 5E321AA23
, 5E321BB23
, 5E321BB51
, 5E321BB53
, 5E321BB60
, 5E321GG11
引用特許:
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