特許
J-GLOBAL ID：201003018422439415
ユークリッド対称性認識システム、方法及びプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 高橋 俊一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-174641
公開番号（公開出願番号）：特開2010-014541
出願日： 2008年07月03日
公開日（公表日）： 2010年01月21日
要約：
【課題】対象物品の計測メッシュからユークリッド対称性認識を行うユークリッド対称性認識システムを提供する。【解決手段】本発明は、計測メッシュに対してメッシュ各頂点の主曲率を計算し、メッシュ各頂点の主曲率を用いて、平面領域の境界近傍にある頂点集合を特徴領域として抽出し、特徴領域群から形状が一致するシード特徴領域ペアを抽出し、ICP法とRegion Growing法により同一の変換パラメータでマッピング可能な頂点ペアを逐次的に各シード特徴領域に追加することで特徴領域ペアを拡大し、互いにユークリッド対称な領域ペアとそれらの変換パラメータを抽出し、ユークリッド対称な領域ペアから平面反射、回転若しくは平行移動で表現できる領域ペアを見出し、当該領域ペアと共に対称性を表現するシステムを特徴とする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
計測メッシュデータと必要な各種のデータを記憶するデータ記憶部と、
前記データ記憶部の計測メッシュデータに対してメッシュ各頂点の主曲率を計算するメッシュ主曲率算出部と、
前記計測メッシュデータのメッシュ各頂点の主曲率を用いて、平面領域の境界近傍にある頂点集合を特徴領域として抽出する特徴領域抽出部と、
前記特徴領域群から、形状が一致する特徴領域ペアをシード特徴領域ペアとして抽出するシード特徴領域ペア抽出部と、
ICP法とRegion Growing法により同一の変換パラメータでマッピング可能な頂点ペアを逐次的に各シード特徴領域に追加することで特徴領域ペアをそれぞれ反復的に拡大し、互いにユークリッド対称な領域ペアとそれらの変換パラメータを抽出するユークリッド対称領域ペア抽出部と、
前記ユークリッド対称な領域ペアとそれらの変換パラメータを評価し、単一平面反射、2-fold回転若しくは単一平行移動で表現できる領域ペアを見出し、当該領域ペアと共に対称性を表示する対称性表示部とを備えたことを特徴とするユークリッド対称性認識システム。
IPC (3件)：
G01B 21/20
, G06T 17/40
, G06F 17/50
G01B21/20 101
, G06T17/40 B
, G06F17/50 628Z
2F069AA04
, 2F069AA53
, 2F069AA66
, 2F069BB40
, 2F069GG04
, 2F069GG08
, 2F069NN00
, 2F069NN17
, 2F069NN18
, 2F069NN26
, 5B046FA16
, 5B050BA04
, 5B050BA09
, 5B050BA13
, 5B050EA04
, 5B050EA12
, 5B050EA27
, 5B050EA28
